Слушателям будут даны основы кристаллографии, необходимые для дальнейшего усвоения курса. Приведены подходы к исследованию структуры и морфологии свободной поверхности в разных аспектах – морфологическом, химическом, структурном. Будут рассмотрены внутренние поверхности как вторые фазы - межзеренные и межфазные границы – в соответствие с авторской классификацией поверхностей как двумерных фаз.
Приведены примеры применения методов дифракции электронов и просвечивающей электронной микроскопии в исследовании свойств нанообъектов.
Факультет
Факультет наук о материалах
Преподаватели
Где
Лабораторный корпус Б, ауд. 215
Когда
Среда 15:10–16:40
Нагрузка:
Аудиторная [ч]: 24
Самостоятельная [ч]: 12
Семестр
Весенний семестр 2024/2025 учебного года
Записалось / всего мест
1 / 50