Курс посвящен рассмотрению возможностей и методик электронной микроскопии и электронной дифракции исследования материалов. Особое внимание уделяется изучению дефектов (2х и 3х мерных). Рассматриваются типы контраста в просвечивающем электронном микроскопе, методы исследования морфологии поверхности и текстур материалов, точность проводимых измерений.
Факультет
Факультет наук о материалах
Преподаватели
Где
лабораторный корпус "Б", Ленинские горы д.1, стр. 73, ауд. 215
Когда
Среда 15:10–16:40
Нагрузка:
Аудиторная [ч]: 24
Самостоятельная [ч]: 12
Семестр
Весенний семестр 2018/2019 учебного года
Записалось / всего мест
4 / 300